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Seung-Woo Kim

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Yang Lu (Hefei University of Technology)

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공동저술논문수 : 1

주기남 (Ki-Nam Joo) 논문수 · 이용수 2,395 · 피인용수 2

소속기관: 조선대학교

소속부서: 광기술공학과

주요 연구분야: 공학 > 기계공학 > 기계공학 일반 TOP 10% 공학 > 전기전자공학 > 전자공학 공학 > 공학 일반 자연과학 > 물리학

연구경력: -

저자정보 . 논문
공저자 . 저널

저자의 연구 키워드

저자의 연구 키워드: #3D film thickness profiles; #3D measurement; #6 DOF stitching (6 자유도 정합); #기하 위상 렌즈; #두께 측정; #미분 간섭 현미경; #색공초점 센서; #절대거리 측정; #정량적 위상 이미징; #층밀림 간섭계; #펨토초 레이저; #편광 격자; #합성파(synthetic wavelength); #aliasing(에일리어싱); #Chromatic aberration; #Chromatic confocal sensor; #Differential interference contrast microscopy; #Digital micromirror device (DMD); #Dimensional Metrology(치수측정); #Direction ambiguity (방향 모호성); #Dispersion (분산); #Dispersive material (분산 물질); #dual coherence; #ellipsometry; #Femtosecond laser; #Filem structure; #Flexible structured illumination microscope (유연 대처 패턴 조사 현미경); #Focus-tunable lens (초점 가변 렌즈); #Fourier transformation (푸리에 변환); #Fourier transformation(푸리에 변환); #Freeform surface; #Geometric phase lens; #Geometrical phase lens; #geometrical thickness; #high step; #Industrial Laser(산업용 레이저); #iterative least squared method; #Laser Processing(레이저 가공); #Lateral shearing interferometry; #Lateral shearing interferometry (층밀림 간섭계); #Low coherence scanning interferometry (저간섭성 주사 간섭계); #Lyot Filter(리오 필터); #measurement speed(측정 속도); #Mode-Locking(모드 잠금); #Near infrared light (근적외선 광); #NIR light; #Nonlinear phase (비선형 위상); #Normal Dispersion(정상 분산); #Optical Metrology(광계측); #Optical Technology(광기술); #phase shifting; #Polarization Control(편광 조절); #Polarization grating; #Polarization grating (편광 격자); #Polarization pixelated camera; #Quantitative phase imaging; #refractive index; #Shearing interferometer; #Si wafer; #Silicon wafer (실리콘 웨이퍼); #simultaneous measurement; #Solid-state Lighting(반도체 조명); #Spectrally resolved interferometry; #Spectrally-resolved interferometry; #Spectrally-resolved interferometry (분산간섭계); #Spectroscopic imaging ellipsometry; #structured illumination microscopy; #sub-sampling(서브 샘플링); #Surface profile; #thickness; #Thickness measurement; #Visibility (가시도); #Vision; #Wafer metrology (웨이퍼 측정); #Wavefront sensing; #Wavefront sensing (파면 측정); #wavelength scanning lateral shearing interferometry; #white light interferometry; #white light scanning interferometry; #White light scanning interferometry(백색광 주사 간섭계); #wide field microscopy; #Yb-Doped Fiber Laser(이터븀 광섬유 레이저)

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